Метод электронной микроскопии



Фото: Метод электронной микроскопии

Причин мужского бесплодия может быть бесконечное множество. Это могут быть анатомические (пороки развития половых органов), морфологические (аномальное строение сперматозоидов), генетические нарушения, соматическая патология мужчины. Большинство из подобных патологий, возможно, обнаружить ещё на начальном этапе диагностики, поведя общеклинические анализы и обследования. Когда же причина не является такой очевидной – необходимо привлечь современные и более точные методы исследования. Одним из подобных является электронная микроскопия. Итак, рассмотрим подробнее метод электронной микроскопии, что это в рамках диагностики мужского бесплодия?

Электронно-микроскопическое исследование – это метод исследования эякулята, при котором используется специальный электронный микроскоп, с возможностью увеличения в 100000 раз, что позволяет врачу, который исследует материал рассмотреть строение самого сперматозоида, его органелл.

Конкретнее, метод электронной микроскопии используют для изучения сперматозоидов на наличие морфологических дефектов, например, отсутствие одного из структурных компонентов у доли сперматозоидов, либо дефект мембраны.

Получить бесплатную консультацию врача

Нажимая на кнопку, вы даете согласие на обработку своих персональных данных

Показаниями для проведения спермограммы путем электронной микроскопии могут служить множественные самопроизвольные аборты невыясненной причины у супружеской пары, подготовка перед проведением методики экстракорпорального оплодотворения, невыясненная причина мужского бесплодия при наличии нормальной или мало измененной спермограммы, исследованные обычной световой микроскопией и другие.

Важно знать, что при проведении данного метода обследования необходимо исследовать также антиспермальные антитела, а также биохимическое исследование спермы. Только в этом случае результат будет наиболее точным и корректным.

Рассмотрим поэтапно такой метод, как «электронная микроскопия», принцип метода, действия врача и пациента.

Сперму необходимо сдавать пациенту лично путём мастурбации полового члена в одном из специально отведенных для этого помещений при лаборатории.Фото:Метод электронной микроскопии При этом произведенный эякулят помещают в специальный контейнер, который затем и отправляется на исследование. Хочется сказать, что материал, сданный в презервативе - не имеет никакой ценности, так как результат будет явно искажен.

Исследует эякулят только врач. Данное исследование занимает по времени (зависит от мощностей лаборатории) от 14 до 21 дней. Подробно изучают во время проведения метода такие структуры, как жгутики, шейки и головки сперматозоида. Метод электронной микроскопии для изучения строения митохондрий также используется, но всё же основным объектом является головка, так как именно она содержит генетическую информацию. Дефект головки может влечь за собой нарушение ДНК, что и будет являться причиной бесплодного брака.

Так же головка должна содержать акросому (подобие «шапочки»), которая позволяет мужской половой клетке «проникать» в яйцеклетку женщины.

Эти и многие другие патологии можно выявить только при помощи электронной микроскопии.

Электронная микроскопия - не что иное, как собранием методик обследования местного состава и микроструктуры живых объектов, расположенных в микрообъемах, а также на поверхности полей магнитного и электрического вида.

Первоначально метод электронной микроскопии использовался для обследования биологических материалов. При этом для толкования снимков задействовали только адсорбционный контраст. Но создание способа реплик-отпечатков, снятых с поверхности, а также отделка их металлами позволило продвинуться дальше. И его помощью стали проводить исследования неорганические объекты в виде изломов и сколов кристаллов. После были предприняты попытки обследования на просвет тонких фольгированных материалов. ЭМ лучше всего подходит для изучения конфигурации сложносоставных кристаллических объектов.

Методика включает в себя три разные группы. Рассмотрим подробно каждую из них.

Получить бесплатную консультацию врача

Нажимая на кнопку, вы даете согласие на обработку своих персональных данных

Просвечивающая электронная микроскопия

Фото: Просвечивающая электронная микроскопия

Это классическая и чаще всего используемая разновидность метода. Им проводят изучение структурных погрешностей кристаллов. Как правило, применяется он для получения данных об ориентации недостатков в матрице, морфологических особенностей, а также выяснения их размеров. В ходе проведения метода используют реплики или фольги. Они прозрачны для электронов.

Реплика представляет собой тонкую пленку изучаемого объекта вещества, на которой фиксируют оттиск микрорельефа поверхности. Таким способом можно получать данные о структуре поверхности исследуемого материала.

Фольги – это не что иное, как тонкие пленки, готовящиеся из массивных образцов. При этом подготовка и истончение образца проводят так, чтобы при процедуре он не был поврежден. Тонкий образец располагают на крупной сетке и отправляют в микроскоп.

Метод просвечивающей электронной микроскопии высокоразрешающего типа

Это новая разработка и с ее помощью можно исследовать кристаллическую решетку образца. Во время процедуры выдается изображение ее отдельных плоскостей. Особенность метода – применение специальной новейшей оптики. Процедуру выполняют в сочетании с абсорбционным контрастом.

Растровая электронная микроскопия

Иначе называют метод сканирующей электронной микроскопии. Основывается она на воздействии растровой развертки электронного луча на поверхность исследуемого материала. В итоге образуются ответные сигналы (это могут быть свет, поглощенный ток, электроны поглощенного или вторичного типа и т.п.), а после формируется его изображение.

Одно из достоинств метода - возможность выполнять обследование материала без предварительной подготовки поверхности. При этом совершенно не важно, какой будет толщина образца.

В основном используется методика для исследования электрически активных недостатков, топографии поверхности, доменов электрического и магнитного и типа, поверхностных структурных недостатков, определении атомного состава поверхности.

Отзывы

Нажимая на кнопку, вы даете согласие на обработку своих персональных данных